Webbläsaren som du använder stöds inte av denna webbplats. Alla versioner av Internet Explorer stöds inte längre, av oss eller Microsoft (läs mer här: * https://www.microsoft.com/en-us/microsoft-365/windows/end-of-ie-support).

Var god och använd en modern webbläsare för att ta del av denna webbplats, som t.ex. nyaste versioner av Edge, Chrome, Firefox eller Safari osv.

X-ray Phase-contrast imaging

Martin Bech

Universitetslektor

X-ray Phase-contrast imaging

Detection of sub-pixel fractures in X-ray dark-field tomography

Författare

  • Torsten Lauridsen
  • Marian Willner
  • Martin Bech
  • Franz Pfeiffer
  • Robert Feidenhans'l

Summary, in English

We present a new method for detecting fractures in solid materials below the resolution given by the detector pixel size by using grating-based X-ray interferometry. The technique is particularly useful for detecting sub-pixel cracks in large samples where the size of the sample is preventing high-resolution mu CT studies of the entire sample. The X-ray grating interferometer produces three distinct modality signals: absorption, phase and dark field. The method utilizes the unique scattering features of the dark-field signal. We have used tomograms reconstructed from each of the three signals to detect cracks in a model sample consisting of stearin.

Avdelning/ar

  • Medicinsk strålningsfysik, Lund

Publiceringsår

2015

Språk

Engelska

Sidor

1243-1250

Publikation/Tidskrift/Serie

Applied Physics A: Materials Science & Processing

Volym

121

Issue

3

Dokumenttyp

Artikel i tidskrift

Förlag

Springer

Ämne

  • Other Materials Engineering

Status

Published

ISBN/ISSN/Övrigt

  • ISSN: 1432-0630